泛半導體缺陷檢測創(chuàng)新型企業(yè)創(chuàng)銳光譜宣布完成近億元PreA輪融資

    近日，泛半導體缺陷檢測創(chuàng)新型企業(yè)創(chuàng)銳光譜宣布完成近億元PreA輪融資，由光速光合領投，老股東君聯(lián)資本跟投，指數(shù)資本擔任獨家財務顧問。融資資金將主要用于技術研發(fā)和產(chǎn)能擴容。

    創(chuàng)銳光譜成立于2016年，是全球領先的瞬態(tài)光譜技術產(chǎn)業(yè)化企業(yè)，立足瞬態(tài)光譜技術，建立了從基礎科學研究到泛半導體檢測領域的全系列產(chǎn)品。歷經(jīng)多年的技術積累與深度耕耘，創(chuàng)銳光譜在光譜學系統(tǒng)、激光器、OPO、探測器、自動化等關鍵技術和核心組件及軟件與運動控制算法等方面均實現(xiàn)自研。

    創(chuàng)銳的科研產(chǎn)品線包括超快瞬態(tài)吸收光譜系統(tǒng)、超快瞬態(tài)吸收顯微成像、納秒瞬態(tài)吸收光譜系統(tǒng)、閃光光解系統(tǒng)等，其產(chǎn)品成功打破歐美等巨頭壟斷，目前已進入國內(nèi)外近百所高校和研究機構，超快光譜系統(tǒng)實現(xiàn)國內(nèi)市占率第一；在化合物半導體檢測產(chǎn)品領域，創(chuàng)銳光譜構建了從襯底到外延的一站式檢測方案；在泛半導體其他領域，已實現(xiàn)鈣鈦礦光伏面板、第二代半導體晶圓、芯片和MicroLED等多個不同場景檢測技術和設備的落地，不斷拓寬市場和技術的邊界。

    創(chuàng)銳光譜CEO陳俞忠博士表示，近一年來創(chuàng)銳光譜在SiC晶圓缺陷檢測方面取得了巨大的技術突破，成功開發(fā)了襯底/外延位錯缺陷無損檢測、點缺陷檢測、高速載流子壽命檢測等多種專用設備，在全球范圍內(nèi)首次解決了SiC襯底位錯缺陷無損檢測的世界性難題，該突破性技術也不斷得到行業(yè)認可，相關DiSpec系列檢測設備已實現(xiàn)全球首套落地，并同步發(fā)運國際和國內(nèi)頭部客戶。

    本輪融資后，創(chuàng)銳光譜將持續(xù)加大研發(fā)投入力度，加速推進SiC晶圓缺陷檢測、鈣鈦礦光伏面板檢測等多種工業(yè)檢測產(chǎn)品的市場導入， 實現(xiàn)批量出貨目標。

    “一代材料，一代工藝，一代檢測”是半導體產(chǎn)業(yè)歷來的發(fā)展邏輯，新檢測技術是推動新材料和新工藝落地的關鍵利器。然而，在化合物半導體加速發(fā)展的大趨勢下，同時具備高效率、低成本，且能覆蓋晶格結構和化學等多種缺陷的檢測方式，尚屬空白狀態(tài)：主流前道檢測技術中，光學檢測（AOI、CIM、明暗場等）可以實現(xiàn)宏觀物理缺陷的快速、無損檢測，但對微觀晶格缺陷沒有檢測能力；常規(guī)譜學檢測（XRD、非線性光學、XRT等）的檢測速度有限，且成本較高、操作復雜。

    瞬態(tài)光譜技術與其他類型檢測有著本質(zhì)區(qū)別，通過Pump光源使被測物體進入激發(fā)態(tài)，在材料的動態(tài)過程和分布上表征多種結構和化學缺陷信息，從而實現(xiàn)泛半導體材料關鍵缺陷檢測的革命性突破。

    當前，SiC材料已進入降本增效、“拼質(zhì)量”階段，瞬態(tài)光譜技術填補了關鍵缺陷檢測技術的空白，為SiC晶圓生產(chǎn)帶來巨大價值。同時，該技術可實現(xiàn)無損、高速率、極高準確性，這將推動整條產(chǎn)業(yè)鏈實現(xiàn)SiC襯底“片片檢”。此外，其底層技術能夠復用于科研場景、GaN外延檢測、鈣鈦礦電池檢測等場景，可觸達市場空間超過百億。

    創(chuàng)銳光譜CEO陳俞忠博士表示，指數(shù)資本關注半導體設備行業(yè)多年，對各類細分的檢測設備做過深入研究，能夠從資本市場的角度，既快又準地梳理出創(chuàng)銳光譜的行業(yè)生態(tài)位。他們制作的交易材料專業(yè)、精準、亮點突出，對融資進度的把控經(jīng)驗十足，本輪融資在效率和結果上都大大超出預期。

    指數(shù)資本副總裁蔡鵬程認為，新型檢測技術是推進新型材料和工藝技術落地的關鍵抓手。創(chuàng)銳團隊在瞬態(tài)光譜技術領域沉淀20年，包含激光器在內(nèi)的多種核心部件均自主研發(fā)，稀缺性極強。2024年是創(chuàng)銳在泛半導體領域實現(xiàn)大規(guī)模突破的元年，我們欣喜地看到，創(chuàng)銳在海內(nèi)外頭部客戶實現(xiàn)突破，作為創(chuàng)銳光譜的獨家財務顧問，我們很高興能陪伴公司順利完成本輪的融資，未來我們也將繼續(xù)陪伴創(chuàng)銳持續(xù)成長！

    光速光合執(zhí)行董事郭斌表示，創(chuàng)銳光譜集結了中科院、浙江大學、埃默里大學等多家世界頂級學府及科研院所的專家團隊，深耕工業(yè)界極為稀缺的瞬態(tài)光譜檢測技術。公司以科研市場為依托，開創(chuàng)性地開發(fā)出具有生產(chǎn)指導價值的新型高端檢測設備，同時突破現(xiàn)有光學檢測手段的能力邊界，有效延伸到碳化硅功率器件、鈣鈦礦光伏組件、MicroLED顯示面板等高端制造領域，顯著促進了幾大新興領域的商業(yè)化進程。尤其在碳化硅領域，已成功向國內(nèi)外龍頭企業(yè)交付了全球范圍內(nèi)首臺套該類型的高端檢測設備，樹立了行業(yè)標桿。此外，經(jīng)過多年技術積淀，公司成功實現(xiàn)在激光器、探測器等關鍵零部件完全自主化生產(chǎn)，打破了國外巨頭的供應鏈壟斷，構建了極深的行業(yè)護城河。

    君聯(lián)資本創(chuàng)銳光譜項目負責人施立成表示，當前，SiC材料已進入降本增效、“拼質(zhì)量”階段，創(chuàng)銳光譜團隊利用多年積累的瞬態(tài)光譜技術填補了SiC關鍵缺陷檢測的空白，為SiC晶圓生產(chǎn)帶來巨大價值。同時，該技術可實現(xiàn)無損、高速率、極高準確性，這將推動整條產(chǎn)業(yè)鏈實現(xiàn)SiC襯底“片片檢”。此外，其底層技術能夠復用于科研場景、GaN外延檢測、鈣鈦礦電池檢測等場景，可觸達市場空間超過百億。